La lectura de microscopios convencionales de fuerza atómica puede escanear superficies con resolución atómica, pero no distingue los diferentes tipos de átomos con imágenes. Investigadores de la Universidad de Osaka en Japón, junto con colegas de la República Checa y España, ahora han aceptado este déficit y han desarrollado un microscopio de fuerza atómica que puede eliminar una huella química de los átomos individuales. El nuevo método podría encontrar numerosas aplicaciones en el análisis de materiales. El principio de un microscopio de fuerza atómica es relativamente simple: una punta fina, generalmente hecha de silicio, metal o diamante, se mueve sobre la superficie para examinarla y escanearla. Si la punta es lo suficientemente afilada, puede mapear átomos individuales y producir imágenes topográficas de la superficie.

Oscar Custance y sus colegas ahora se han preguntado si de esta manera se puede determinar la naturaleza de los átomos de la superficie. Para hacer esto, los investigadores movieron la punta hacia arriba y hacia abajo a través de diferentes átomos, examinando cómo la fuerza de atracción entre la punta y el átomo cambiaba con la distancia entre los dos. En su estudio, los investigadores muestran que de hecho es posible analizar la composición química de una superficie de esta manera.

Sin embargo, dado que la forma exacta de la interacción depende mucho de la naturaleza de la punta utilizada, los investigadores ya deben conocer la composición química de la sustancia desde el principio. De esta manera, se puede determinar la proporción relativa de diferentes tipos de átomos en la superficie, lo que facilita la interpretación de las huellas dactilares determinadas con el microscopio de fuerza.

Nature, vol. 446, p. 64 Anuncio de Stefan Maier

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